| dc.creator | Houska, C. R. | |
| dc.date | 2019-11-25 | |
| dc.date.accessioned | 2020-03-13T17:56:08Z | |
| dc.date.available | 2020-03-13T17:56:08Z | |
| dc.identifier | http://www.revistas.usach.cl/ojs/index.php/contribuciones/article/view/4208 | |
| dc.identifier.uri | https://revistaschilenas.uchile.cl/handle/2250/133372 | |
| dc.description | Avances recientes en el procesamiento de datos de difracción de rayos X permiten duplicar la resolución de los resultados. La segunda derivada posibilita distinguir el número de máximos de difracción sobrepuestos en un diagrama complejo, lo cual proporciona importante información para un análisis computacional de mínimos cuadrados no lineales. Este tratamiento utiliza la función Pearson VII, lo que permite determinaciones de fases cualitativas y cuantitativas, usando diagramas de difracción que normalmente serian descartados. Se muestran ejemplos de aplicación a diagramas tomados a minerales de cobre chilenos. Otro avance reciente se relaciona con la determinación cuantitativa de fases por difracción de rayos X en materiales con texturas marcadas. Esto se puede aplicar a la determinación de austenita retenida, así como también a otros problemas de multifases, donde la textura impide un análisis cuantitativo exacto. Se describe una tercera técnica, que permite obtener información sobre difusión en zonas de 1/10 del tamaño requerido por las técnicas convencionales. Debido a la dependencia del perfil del espaciado interplanar, de su primera derivada, muestra implícitamente un alto grado de sensibilidad con respecto a las técnicas usuales para medir directamente la composición. Proporciona así, una ventaja adicional al entregar información sobre las estructuras cristalinas en las zonas de difusión. | es-ES |
| dc.format | application/pdf | |
| dc.language | spa | |
| dc.publisher | UNIVERSIDAD DE SANTIAGO DE CHILE | es-ES |
| dc.relation | http://www.revistas.usach.cl/ojs/index.php/contribuciones/article/view/4208/26003275 | |
| dc.source | Contribuciones Científicas y Tecnológicas; Núm. 55 (1982): Contribuciones Científicas y Tecnológicas; 31 - 51 | es-ES |
| dc.source | 0719-8388 | |
| dc.source | 0716-0127 | |
| dc.title | Some emerging x-ray diffraction techniques of interest to metallurgists | es-ES |
| dc.type | info:eu-repo/semantics/article | |
| dc.type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion | |
